| ■ 영문 제목 : Global Semiconductor Wafer Test Probe Cards Market Growth 2025-2031 | |
 | ■ 상품코드 : LPK23JU1363 ■ 조사/발행회사 : LP Information ■ 발행일 : 2025년 3월 ■ 페이지수 : 123 ■ 작성언어 : 영어 ■ 보고서 형태 : PDF ■ 납품 방식 : E메일 ■ 조사대상 지역 : 글로벌 ■ 산업 분야 : 전자&반도체 |
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| LPI (LP Information)의 최신 조사 보고서는 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드의 과거 판매실적을 살펴보고 2024년의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 판매실적을 검토하여 2025년부터 2031년까지 예상되는 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 판매에 대한 지역 및 시장 세그먼트별 포괄적인 분석을 제공합니다. 세계의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모는 2024년 xxx백만 달러에서 연평균 xx% 성장하여 2031년에는 xxx백만 달러에 달할 것으로 예측되고 있습니다. 본 보고서의 시장규모 데이터는 무역 전쟁 및 러시아-우크라이나 전쟁의 영향을 반영했습니다. 본 보고서는 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드의 세계시장에 관해서 조사, 분석한 자료로서, 기업별 시장 점유율, 지역별 시장규모 (미주, 미국, 캐나다, 멕시코, 브라질, 아시아, 중국, 일본, 한국, 동남아시아, 인도, 유럽, 독일, 프랑스, 영국, 이탈리아, 러시아, 중동/아프리카, 이집트, 남아프리카, 터키, 중동GCC국 등), 시장동향, 판매/유통업자/고객 리스트, 시장예측 (2026년-2031년), 주요 기업동향 (기업정보, 제품, 판매량, 매출, 가격, 매출총이익) 등의 정보를 포함하고 있습니다. 또한, 주요지역의 종류별 시장규모 (캔틸레버형 프로브 카드, 수직형 프로브 카드, MEMS 프로브 카드, 기타)와 용도별 시장규모 (파운드리 로직, DRAM, 플래시, 파라 메트릭, 기타 (RF/MMW/레이더, 기타)) 데이터도 수록되어 있습니다. ***** 목차 구성 ***** 보고서의 범위 경영자용 요약 - 세계의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 2020년-2031년 - 지역별 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장분석 - 종류별 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 2020년-2025년 (캔틸레버형 프로브 카드, 수직형 프로브 카드, MEMS 프로브 카드, 기타) - 용도별 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 2020년-2025년 (파운드리 로직, DRAM, 플래시, 파라 메트릭, 기타 (RF/MMW/레이더, 기타)) 기업별 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장분석 - 기업별 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 판매량 - 기업별 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 매출액 - 기업별 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 판매가격 - 주요기업의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 생산거점, 판매거점 - 시장 집중도 분석 지역별 분석 - 지역별 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 판매량 2020년-2025년 - 지역별 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 매출액 2020년-2025년 미주 시장 - 미주의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 2020년-2025년 - 미주의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 : 종류별 - 미주의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 : 용도별 - 미국 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 - 캐나다 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 - 멕시코 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 - 브라질 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 아시아 시장 - 아시아의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 2020년-2025년 - 아시아의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 : 종류별 - 아시아의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 : 용도별 - 중국 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 - 일본 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 - 한국 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 - 동남아시아 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 - 인도 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 유럽 시장 - 유럽의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 2020년-2025년 - 유럽의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 : 종류별 - 유럽의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 : 용도별 - 독일 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 - 프랑스 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 - 영국 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 중동/아프리카 시장 - 중동/아프리카의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 2020년-2025년 - 중동/아프리카의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 : 종류별 - 중동/아프리카의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 : 용도별 - 이집트 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 - 남아프리카 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 - 중동GCC 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 시장의 성장요인, 과제, 동향 - 시장의 성장요인, 기회 - 시장의 과제, 리스크 - 산업 동향 제조원가 구조 분석 - 원재료 및 공급업체 - 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드의 제조원가 구조 분석 - 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드의 제조 프로세스 분석 - 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드의 산업체인 구조 마케팅, 유통업체, 고객 - 판매채널 - 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드의 유통업체 - 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드의 주요 고객 지역별 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장 예측 - 지역별 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장규모 예측 2026년-2031년 - 미주 지역 예측 - 아시아 지역 예측 - 유럽 지역 예측 - 중동/아프리카 지역 예측 - 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드의 종류별 시장예측 (캔틸레버형 프로브 카드, 수직형 프로브 카드, MEMS 프로브 카드, 기타) - 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드의 용도별 시장예측 (파운드리 로직, DRAM, 플래시, 파라 메트릭, 기타 (RF/MMW/레이더, 기타)) 주요 기업 분석 (기업정보, 제품, 판매량, 매출, 가격, 매출총이익) - FormFactor, Technoprobe S.p.A., Micronics Japan (MJC), Japan Electronic Materials (JEM), MPI Corporation, SV Probe, Microfriend, Korea Instrument, Will Technology, TSE, Feinmetall, Synergie Cad Probe, TIPS Messtechnik GmbH, STAr Technologies, Inc., MaxOne, Shenzhen DGT, Suzhou Silicon Test System, CHPT, Probe Test Solutions Limited, Probecard Technology 조사의 결론 |
LPI (LP Information)’ newest research report, the “Semiconductor Wafer Test Probe Cards Industry Forecast” looks at past sales and reviews total world Semiconductor Wafer Test Probe Cards sales in 2024, providing a comprehensive analysis by region and market sector of projected Semiconductor Wafer Test Probe Cards sales for 2025 through 2031. With Semiconductor Wafer Test Probe Cards sales broken down by region, market sector and sub-sector, this report provides a detailed analysis in US$ millions of the world Semiconductor Wafer Test Probe Cards industry.
This Insight Report provides a comprehensive analysis of the global Semiconductor Wafer Test Probe Cards landscape and highlights key trends related to product segmentation, company formation, revenue, and market share, latest development, and M&A activity. This report also analyzes the strategies of leading global companies with a focus on Semiconductor Wafer Test Probe Cards portfolios and capabilities, market entry strategies, market positions, and geographic footprints, to better understand these firms’ unique position in an accelerating global Semiconductor Wafer Test Probe Cards market.
This Insight Report evaluates the key market trends, drivers, and affecting factors shaping the global outlook for Semiconductor Wafer Test Probe Cards and breaks down the forecast by type, by application, geography, and market size to highlight emerging pockets of opportunity. With a transparent methodology based on hundreds of bottom-up qualitative and quantitative market inputs, this study forecast offers a highly nuanced view of the current state and future trajectory in the global Semiconductor Wafer Test Probe Cards.
The global Semiconductor Wafer Test Probe Cards market size is projected to grow from US$ million in 2024 to US$ million in 2031; it is expected to grow at a CAGR of % from 2025 to 2031.
United States market for Semiconductor Wafer Test Probe Cards is estimated to increase from US$ million in 2024 to US$ million by 2031, at a CAGR of % from 2025 through 2031.
China market for Semiconductor Wafer Test Probe Cards is estimated to increase from US$ million in 2024 to US$ million by 2031, at a CAGR of % from 2025 through 2031.
Europe market for Semiconductor Wafer Test Probe Cards is estimated to increase from US$ million in 2024 to US$ million by 2031, at a CAGR of % from 2025 through 2031.
Global key Semiconductor Wafer Test Probe Cards players cover FormFactor, Technoprobe S.p.A., Micronics Japan (MJC), Japan Electronic Materials (JEM), MPI Corporation, SV Probe, Microfriend, Korea Instrument and Will Technology, etc. In terms of revenue, the global two largest companies occupied for a share nearly % in 2024.
This report presents a comprehensive overview, market shares, and growth opportunities of Semiconductor Wafer Test Probe Cards market by product type, application, key manufacturers and key regions and countries.
[Market Segmentation]
Segmentation by type
Cantilever Probe Card
Vertical Probe Card
MEMS Probe Card
Others
Segmentation by application
Foundry & Logic
DRAM
Flash
Parametric
Others (RF/MMW/Radar, etc.)
This report also splits the market by region:
Americas
United States
Canada
Mexico
Brazil
APAC
China
Japan
Korea
Southeast Asia
India
Australia
Europe
Germany
France
UK
Italy
Russia
Middle East & Africa
Egypt
South Africa
Israel
Turkey
GCC Countries
The below companies that are profiled have been selected based on inputs gathered from primary experts and analyzing the company’s coverage, product portfolio, its market penetration.
FormFactor
Technoprobe S.p.A.
Micronics Japan (MJC)
Japan Electronic Materials (JEM)
MPI Corporation
SV Probe
Microfriend
Korea Instrument
Will Technology
TSE
Feinmetall
Synergie Cad Probe
TIPS Messtechnik GmbH
STAr Technologies, Inc.
MaxOne
Shenzhen DGT
Suzhou Silicon Test System
CHPT
Probe Test Solutions Limited
Probecard Technology
[Key Questions Addressed in this Report]
What is the 10-year outlook for the global Semiconductor Wafer Test Probe Cards market?
What factors are driving Semiconductor Wafer Test Probe Cards market growth, globally and by region?
Which technologies are poised for the fastest growth by market and region?
How do Semiconductor Wafer Test Probe Cards market opportunities vary by end market size?
How does Semiconductor Wafer Test Probe Cards break out type, application?
What are the influences of trade war and Russia-Ukraine war?
1 Scope of the Report |
| ※참고 정보 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드(Semiconductor Wafer Test Probe Cards)는 반도체 칩이 집적된 웨이퍼의 각 칩을 전기적으로 연결하여 성능을 검증하는 핵심 부품입니다. 반도체 제조 공정의 마지막 단계인 웨이퍼 레벨 테스트(Wafer Level Test)에서 필수적으로 사용되며, 이 과정에서 불량 칩을 걸러내어 최종 제품의 품질을 보증하는 중요한 역할을 수행합니다. 프로브 카드의 기본적인 개념은 웨이퍼 상에 배치된 수많은 개별 반도체 칩(Dies)의 패드(Pad)와 접촉하여, 외부의 테스트 장비와 칩을 전기적으로 연결하는 다리 역할을 하는 것입니다. 각 칩은 웨이퍼 상에 수백에서 수천 개까지 배열될 수 있으며, 이 모든 칩을 정확하고 안정적으로 테스트하기 위해서는 고도로 정밀하고 복잡한 구조의 프로브 카드가 요구됩니다. 프로브 카드의 가장 큰 특징은 그 복잡성과 정밀성입니다. 웨이퍼 상의 각 칩 패드는 매우 작고 촘촘하게 배열되어 있으며, 프로브 카드에는 이러한 수많은 패드와 접촉할 수 있도록 극히 미세한 프로브 팁(Probe Tip)들이 집적되어 있습니다. 이러한 프로브 팁은 금속 재질로 만들어지며, 웨이퍼 패드와의 접촉 시 안정적인 전기적 신호 전달이 가능해야 합니다. 또한, 프로브 팁은 물리적인 마모나 오염에 강해야 하며, 웨이퍼 패드에 손상을 주지 않으면서도 확실한 접촉을 유지할 수 있는 특성을 가져야 합니다. 프로브 카드의 종류는 크게 다음과 같이 나눌 수 있습니다. 첫째, 물리적인 구조에 따라 분류할 수 있습니다. 와이어 본딩 방식의 프로브 카드는 미세한 와이어를 사용하여 프로브 팁과 카드 자체를 연결하는 방식으로, 비교적 초기 단계부터 사용되어 온 기술입니다. 그러나 미세화 및 고밀도 집적화 추세에 따라 와이어 본딩 방식은 한계에 봉착하면서, 현재는 보다 발전된 형태의 프로브 카드들이 주를 이루고 있습니다. 둘째, 프로브 팁의 재질 및 구조에 따라 분류할 수 있습니다. 가장 일반적인 형태는 스프링 프로브(Spring Probe)로, 금속 합금으로 만들어진 탄성이 있는 핀 형태로 웨이퍼 패드에 압력을 가해 접촉합니다. 스프링 프로브는 내구성이 좋고 다양한 테스트 환경에 적용 가능하다는 장점이 있습니다. 다른 종류로는 다이오드(Diode) 또는 트랜지스터(Transistor)가 집적된 형태의 전자 프로브(Electronic Probe) 또는 포토 리소그래피 기술을 이용하여 미세하게 형성된 프로브인 MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems) 프로브 카드 등이 있습니다. MEMS 프로브 카드는 매우 미세한 프로브 팁을 직접적으로 웨이퍼 패드에 접촉시킬 수 있어 고밀도 및 미세 피치(Fine Pitch) 테스트에 유리하며, 차세대 반도체 기술에서 더욱 중요성이 증대되고 있습니다. 프로브 카드의 용도는 반도체 제조 공정 전반에 걸쳐 다양하게 나타납니다. 가장 근본적인 용도는 웨이퍼 상에 제작된 모든 칩의 전기적 성능을 검증하는 것입니다. 이는 DC(직류) 파라미터 테스트, AC(교류) 파라미터 테스트, 메모리 테스트, 로직 테스트 등 다양한 종류의 테스트를 포함합니다. 프로브 카드는 이러한 테스트 신호를 칩으로 전달하고, 칩으로부터의 응답 신호를 측정 장비로 전달하는 통로 역할을 합니다. 또한, 특정 불량 칩을 식별하고, 불량 칩의 위치 정보를 기록하는 데에도 사용됩니다. 이러한 웨이퍼 레벨 테스트를 통해 양품으로 판정된 칩만이 이후 패키징 공정으로 넘어가게 되어, 최종 제품의 수율과 품질을 결정짓는 매우 중요한 단계입니다. 프로브 카드의 제작 및 사용과 관련된 관련 기술 또한 매우 중요합니다. 프로브 카드는 높은 수준의 설계 및 제조 기술을 요구합니다. 웨이퍼 상의 칩 패드 피치가 계속해서 미세화됨에 따라 프로브 카드의 프로브 팁 역시 더욱 미세하고 정밀하게 제작되어야 합니다. 이를 위해 반도체 공정에서 사용되는 정밀한 포토 리소그래피 기술, 식각 기술, 증착 기술 등이 프로브 카드 제작에도 적용됩니다. 특히, 프로브 팁의 형상, 길이, 재질, 간격 등은 테스트 성능에 직접적인 영향을 미치므로, 이러한 요소들을 최적화하기 위한 다양한 연구 개발이 이루어지고 있습니다. 또한, 프로브 카드와 웨이퍼 간의 안정적인 전기적 접촉을 확보하기 위한 기술도 중요합니다. 웨이퍼 표면의 산화막이나 오염 물질은 접촉 저항을 증가시키거나 접촉 불량을 유발할 수 있습니다. 이를 극복하기 위해 프로브 팁의 표면 처리 기술이나, 웨이퍼 표면을 클리닝하는 기술 등이 함께 사용됩니다. 테스트 속도 향상과 불량 칩 검출 능력 강화를 위해 프로브 카드의 신호 무결성(Signal Integrity)을 유지하는 기술, 누화(Crosstalk)를 최소화하는 기술 등도 중요하게 고려됩니다. 프로브 카드는 반도체 웨이퍼 테스팅의 핵심 구성 요소로서, 기술의 발전과 함께 지속적으로 진화하고 있습니다. 미세화, 고성능화, 저전력화되는 차세대 반도체 칩의 등장에 따라 프로브 카드 또한 더욱 정밀하고 복잡한 요구사항을 충족시키기 위해 나노 수준의 기술력을 요구받고 있으며, 이는 관련 산업의 발전과도 밀접하게 연관되어 있습니다. |
| ※본 조사보고서 [세계의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장예측 2025년-2031년] (코드 : LPK23JU1363) 판매에 관한 면책사항을 반드시 확인하세요. |
| ※본 조사보고서 [세계의 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 시장예측 2025년-2031년] 에 대해서 E메일 문의는 여기를 클릭하세요. |