| ■ 영문 제목 : Global Probe Scanning Microscope Market Growth 2025-2031 | |
 | ■ 상품코드 : LPK23JU0945 ■ 조사/발행회사 : LP Information ■ 발행일 : 2025년 3월 ■ 페이지수 : 90 ■ 작성언어 : 영어 ■ 보고서 형태 : PDF ■ 납품 방식 : E메일 ■ 조사대상 지역 : 글로벌 ■ 산업 분야 : 기계&장치 |
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| LPI (LP Information)의 최신 조사 보고서는 프로브 스캐닝 현미경의 과거 판매실적을 살펴보고 2024년의 프로브 스캐닝 현미경 판매실적을 검토하여 2025년부터 2031년까지 예상되는 프로브 스캐닝 현미경 판매에 대한 지역 및 시장 세그먼트별 포괄적인 분석을 제공합니다. 세계의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모는 2024년 xxx백만 달러에서 연평균 xx% 성장하여 2031년에는 xxx백만 달러에 달할 것으로 예측되고 있습니다. 본 보고서의 시장규모 데이터는 무역 전쟁 및 러시아-우크라이나 전쟁의 영향을 반영했습니다. 본 보고서는 프로브 스캐닝 현미경의 세계시장에 관해서 조사, 분석한 자료로서, 기업별 시장 점유율, 지역별 시장규모 (미주, 미국, 캐나다, 멕시코, 브라질, 아시아, 중국, 일본, 한국, 동남아시아, 인도, 유럽, 독일, 프랑스, 영국, 이탈리아, 러시아, 중동/아프리카, 이집트, 남아프리카, 터키, 중동GCC국 등), 시장동향, 판매/유통업자/고객 리스트, 시장예측 (2026년-2031년), 주요 기업동향 (기업정보, 제품, 판매량, 매출, 가격, 매출총이익) 등의 정보를 포함하고 있습니다. 또한, 주요지역의 종류별 시장규모 (고해상도, 초고해상도)와 용도별 시장규모 (학교 연구 개발 기관, 기업 연구 개발 기관) 데이터도 수록되어 있습니다. ***** 목차 구성 ***** 보고서의 범위 경영자용 요약 - 세계의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2031년 - 지역별 프로브 스캐닝 현미경 시장분석 - 종류별 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 (고해상도, 초고해상도) - 용도별 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 (학교 연구 개발 기관, 기업 연구 개발 기관) 기업별 프로브 스캐닝 현미경 시장분석 - 기업별 프로브 스캐닝 현미경 판매량 - 기업별 프로브 스캐닝 현미경 매출액 - 기업별 프로브 스캐닝 현미경 판매가격 - 주요기업의 프로브 스캐닝 현미경 생산거점, 판매거점 - 시장 집중도 분석 지역별 분석 - 지역별 프로브 스캐닝 현미경 판매량 2020년-2025년 - 지역별 프로브 스캐닝 현미경 매출액 2020년-2025년 미주 시장 - 미주의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 - 미주의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 종류별 - 미주의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 용도별 - 미국 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 캐나다 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 멕시코 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 브라질 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 아시아 시장 - 아시아의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 - 아시아의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 종류별 - 아시아의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 용도별 - 중국 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 일본 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 한국 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 동남아시아 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 인도 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 유럽 시장 - 유럽의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 - 유럽의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 종류별 - 유럽의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 용도별 - 독일 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 프랑스 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 영국 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 중동/아프리카 시장 - 중동/아프리카의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 2020년-2025년 - 중동/아프리카의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 종류별 - 중동/아프리카의 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 : 용도별 - 이집트 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 남아프리카 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 - 중동GCC 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 시장의 성장요인, 과제, 동향 - 시장의 성장요인, 기회 - 시장의 과제, 리스크 - 산업 동향 제조원가 구조 분석 - 원재료 및 공급업체 - 프로브 스캐닝 현미경의 제조원가 구조 분석 - 프로브 스캐닝 현미경의 제조 프로세스 분석 - 프로브 스캐닝 현미경의 산업체인 구조 마케팅, 유통업체, 고객 - 판매채널 - 프로브 스캐닝 현미경의 유통업체 - 프로브 스캐닝 현미경의 주요 고객 지역별 프로브 스캐닝 현미경 시장 예측 - 지역별 프로브 스캐닝 현미경 시장규모 예측 2026년-2031년 - 미주 지역 예측 - 아시아 지역 예측 - 유럽 지역 예측 - 중동/아프리카 지역 예측 - 프로브 스캐닝 현미경의 종류별 시장예측 (고해상도, 초고해상도) - 프로브 스캐닝 현미경의 용도별 시장예측 (학교 연구 개발 기관, 기업 연구 개발 기관) 주요 기업 분석 (기업정보, 제품, 판매량, 매출, 가격, 매출총이익) - Angstrom Advanced, Bruker Nano Surfaces, CAMECA, HORIBA Scientific, Princeton Applied Research, PVA TePla Analytical Systems GmbH, Scienta Omicron 조사의 결론 |
LPI (LP Information)’ newest research report, the “Probe Scanning Microscope Industry Forecast” looks at past sales and reviews total world Probe Scanning Microscope sales in 2024, providing a comprehensive analysis by region and market sector of projected Probe Scanning Microscope sales for 2025 through 2031. With Probe Scanning Microscope sales broken down by region, market sector and sub-sector, this report provides a detailed analysis in US$ millions of the world Probe Scanning Microscope industry.
This Insight Report provides a comprehensive analysis of the global Probe Scanning Microscope landscape and highlights key trends related to product segmentation, company formation, revenue, and market share, latest development, and M&A activity. This report also analyzes the strategies of leading global companies with a focus on Probe Scanning Microscope portfolios and capabilities, market entry strategies, market positions, and geographic footprints, to better understand these firms’ unique position in an accelerating global Probe Scanning Microscope market.
This Insight Report evaluates the key market trends, drivers, and affecting factors shaping the global outlook for Probe Scanning Microscope and breaks down the forecast by type, by application, geography, and market size to highlight emerging pockets of opportunity. With a transparent methodology based on hundreds of bottom-up qualitative and quantitative market inputs, this study forecast offers a highly nuanced view of the current state and future trajectory in the global Probe Scanning Microscope.
The global Probe Scanning Microscope market size is projected to grow from US$ million in 2024 to US$ million in 2031; it is expected to grow at a CAGR of % from 2025 to 2031.
United States market for Probe Scanning Microscope is estimated to increase from US$ million in 2024 to US$ million by 2031, at a CAGR of % from 2025 through 2031.
China market for Probe Scanning Microscope is estimated to increase from US$ million in 2024 to US$ million by 2031, at a CAGR of % from 2025 through 2031.
Europe market for Probe Scanning Microscope is estimated to increase from US$ million in 2024 to US$ million by 2031, at a CAGR of % from 2025 through 2031.
Global key Probe Scanning Microscope players cover Angstrom Advanced, Bruker Nano Surfaces, CAMECA, HORIBA Scientific, Princeton Applied Research, PVA TePla Analytical Systems GmbH and Scienta Omicron, etc. In terms of revenue, the global two largest companies occupied for a share nearly % in 2024.
This report presents a comprehensive overview, market shares, and growth opportunities of Probe Scanning Microscope market by product type, application, key manufacturers and key regions and countries.
[Market Segmentation]
Segmentation by type
High Resolution
Super High Resolution
Segmentation by application
School R&D Institutions
Enterprise R&D Institutions
This report also splits the market by region:
Americas
United States
Canada
Mexico
Brazil
APAC
China
Japan
Korea
Southeast Asia
India
Australia
Europe
Germany
France
UK
Italy
Russia
Middle East & Africa
Egypt
South Africa
Israel
Turkey
GCC Countries
The below companies that are profiled have been selected based on inputs gathered from primary experts and analyzing the company’s coverage, product portfolio, its market penetration.
Angstrom Advanced
Bruker Nano Surfaces
CAMECA
HORIBA Scientific
Princeton Applied Research
PVA TePla Analytical Systems GmbH
Scienta Omicron
[Key Questions Addressed in this Report]
What is the 10-year outlook for the global Probe Scanning Microscope market?
What factors are driving Probe Scanning Microscope market growth, globally and by region?
Which technologies are poised for the fastest growth by market and region?
How do Probe Scanning Microscope market opportunities vary by end market size?
How does Probe Scanning Microscope break out type, application?
What are the influences of trade war and Russia-Ukraine war?
1 Scope of the Report |
| ※참고 정보 프로브 스캐닝 현미경(Probe Scanning Microscope, PSM)은 나노미터 또는 옹스트롬 수준의 매우 작은 스케일에서 물질의 표면 형상, 물성 등을 고해상도로 관찰하고 분석하는 첨단 현미경 기술입니다. 이 기술의 핵심은 날카롭게 가공된 탐침(probe)을 시료 표면에 매우 가깝게 접근시켜 탐침과 시료 표면 사이의 상호작용을 측정하고, 이 측정값을 바탕으로 시료 표면의 3차원적인 지형이나 다양한 물리적 특성을 영상화하는 것입니다. 기존 광학 현미경이 빛의 회절 한계로 인해 분해능에 제약을 받는 반면, 프로브 스캐닝 현미경은 탐침의 크기 및 상호작용 메커니즘을 이용하므로 훨씬 뛰어난 분해능을 제공합니다. 프로브 스캐닝 현미경의 가장 대표적인 특징은 바로 그 압도적인 분해능입니다. 광학 현미경의 분해능이 약 200 나노미터 수준에 머무르는 반면, 원자간 힘 현미경(Atomic Force Microscope, AFM)과 같은 프로브 스캐닝 현미경은 수 나노미터, 심지어 원자 수준의 분해능을 달성할 수 있습니다. 이는 나노기술, 재료과학, 생명과학 등 다양한 분야에서 극미세 구조를 이해하고 제어하는 데 필수적인 능력을 제공합니다. 또 다른 중요한 특징은 시료의 3차원적인 표면 형상을 얻을 수 있다는 점입니다. 탐침이 표면을 따라 이동하면서 각 지점에서의 높이 변화를 측정하여 실제와 같은 입체적인 이미지를 재구성합니다. 이는 시료의 구조적인 특징을 파악하는 데 매우 유용합니다. 또한, 프로브 스캐닝 현미경은 단순히 표면의 지형 정보만을 얻는 것이 아니라, 탐침과 시료 표면 간의 다양한 상호작용을 측정함으로써 전기적, 자기적, 기계적, 화학적 등 다양한 물리적 특성을 동시에 분석할 수 있는 다기능성을 가집니다. 예를 들어, AFM의 경우 특정 작용기를 가진 탐침을 사용하여 특정 분자를 검출하거나, 전기적 특성을 측정하는 전기력 현미경(Electrostatic Force Microscope, EFM) 모드를 활용할 수 있습니다. 또한, 대부분의 프로브 스캐닝 현미경은 특별한 시료 준비 과정 없이도 대기압이나 액체 환경에서도 작동이 가능하여, 살아있는 세포와 같이 민감한 시료를 실제 환경과 유사한 조건에서 관찰할 수 있다는 큰 장점을 지닙니다. 이는 생명 과학 연구에 있어 매우 중요한 요소입니다. 시료를 파괴하지 않고 측정할 수 있는 비파괴적인 측정 방식 또한 빼놓을 수 없는 특징입니다. 탐침이 시료 표면과 상호작용하는 힘의 크기를 조절하여 시료에 손상을 주지 않으면서도 정확한 정보를 얻을 수 있습니다. 프로브 스캐닝 현미경의 가장 대표적인 종류는 크게 두 가지 방식으로 나눌 수 있습니다. 첫째는 원자간 힘 현미경(AFM)입니다. AFM은 캔틸레버(cantilever)라고 하는 매우 얇고 탄성 있는 막대 끝에 날카로운 탐침이 달려 있으며, 이 탐침과 시료 표면 사이에서 작용하는 인력 또는 척력을 감지하여 표면 형상을 영상화합니다. AFM은 작동 방식에 따라 크게 접촉 모드(contact mode)와 비접촉 모드(non-contact mode), 그리고 탄성 모드(tapping mode, 또는 intermittent contact mode)로 나눌 수 있습니다. 접촉 모드는 탐침이 시료 표면에 계속 접촉하면서 스캔하는 방식인데, 높은 분해능을 얻을 수 있지만 시료 표면에 미세한 손상을 줄 가능성이 있습니다. 비접촉 모드는 탐침이 시료 표면과 접촉하지 않고 진동하면서 표면과의 상호작용에 의한 진동 주파수 변화를 감지하는 방식으로, 시료 손상이 거의 없다는 장점이 있습니다. 탄성 모드는 탐침이 시료 표면을 주기적으로 살짝 건드리는 방식으로, 접촉 모드의 높은 분해능과 비접촉 모드의 시료 손상 최소화라는 장점을 모두 갖춘 현실적인 절충안으로 많이 사용됩니다. 둘째는 주사 터널링 현미경(Scanning Tunneling Microscope, STM)입니다. STM은 매우 날카로운 전도성 탐침을 전도성 시료 표면에 매우 가깝게 접근시켰을 때 발생하는 양자 역학적 터널링 전류를 측정하여 표면 형상을 영상화합니다. STM은 원자 수준의 매우 높은 분해능을 제공하지만, 측정 대상이 반드시 전도성이 있어야 한다는 제약이 있습니다. 이러한 기본적인 두 종류의 현미경을 기반으로 다양한 파생 기술들이 개발되었습니다. 예를 들어, AFM의 캔틸레버에 다른 종류의 센서를 부착하여 자기장 변화를 감지하는 자기력 현미경(Magnetic Force Microscope, MFM), 전기장 변화를 감지하는 전기력 현미경(Electrostatic Force Microscope, EFM), 온도 변화를 감지하는 열 분석 현미경(Scanning Thermal Microscope, SThM), 시료 표면의 광학적 특성을 분석하는 라만 분광 현미경(Scanning Raman Microscope, SRM) 등이 있습니다. 또한, 탐침의 이동 속도를 획기적으로 높여 빠른 시간 안에 넓은 영역을 관찰할 수 있는 고속 AFM(Fast AFM)이나, 특정 지점에 탐침을 고정시켜 상세한 정보를 얻는 초고분해능 AFM(Super-resolution AFM)과 같은 기술 발전도 지속적으로 이루어지고 있습니다. 프로브 스캐닝 현미경의 용도는 실로 방대합니다. 재료 과학 분야에서는 신소재의 표면 구조 분석, 박막의 두께 및 균일도 측정, 나노 입자의 형태 및 크기 분석, 결정 성장 과정 관찰 등에 널리 활용됩니다. 예를 들어, 차세대 반도체 소자의 미세 패턴을 분석하거나 새로운 촉매 재료의 표면 구조를 이해하는 데 중요한 역할을 합니다. 전자공학 분야에서는 나노 와이어, 양자점과 같은 나노 전자 소자의 특성 분석, 전자 소자 표면의 결함 검출, 전도성 폴리머의 전기적 특성 평가 등에 사용됩니다. 바이오 및 의학 분야에서는 살아있는 세포의 표면 구조 변화 관찰, 단백질이나 DNA와 같은 생체 분자의 구조 분석, 약물 전달 시스템의 나노 입자 분석, 세포막의 물리적 특성 연구 등 생명 현상을 분자 수준에서 이해하는 데 혁신적인 기여를 하고 있습니다. 또한, 나노 기술의 발전과 함께 나노 구조물이나 나노 장치를 직접적으로 설계하고 제작하는 데에도 프로브 스캐닝 현미경이 활용됩니다. 예를 들어, 패턴 리소그래피(pattern lithography) 기술과 결합하여 특정 패턴을 시료 표면에 새겨 넣거나, 나노 입자를 원하는 위치로 이동시키는 조작(manipulation)에도 사용될 수 있습니다. 이러한 다재다능함으로 인해 프로브 스캐닝 현미경은 현대 과학기술 발전의 핵심적인 도구로 자리매김하고 있습니다. 프로브 스캐닝 현미경과 관련된 주요 관련 기술로는 먼저 **탐침(probe) 제작 기술**이 있습니다. 탐침의 날카로움과 안정성은 현미경의 분해능과 성능을 결정하는 가장 중요한 요소입니다. 실리콘 또는 실리콘 질화물로 만들어지는 캔틸레버와 그 끝에 부착되는 탐침은 미세 가공 기술과 나노 코팅 기술을 통해 매우 정밀하게 제작됩니다. 이러한 탐침들은 특정 물리적 특성을 측정하기 위해 금, 다이아몬드, 또는 특정 기능성 물질로 코팅되기도 합니다. 다음으로 **피드백 제어 기술**입니다. 탐침과 시료 사이의 거리를 일정하게 유지하며 표면을 스캔하는 것은 매우 정교한 피드백 제어를 통해 이루어집니다. 이를 위해 고성능 센서, 정밀한 스텝 모터, 그리고 실시간으로 측정값을 처리하는 제어 시스템이 요구됩니다. 또한, **영상 처리 및 분석 소프트웨어** 기술도 중요합니다. 측정된 데이터를 3차원 이미지로 변환하고, 표면 거칠기, 입자 크기 분포 등 다양한 정보를 추출하기 위한 고급 영상 처리 알고리즘과 분석 도구가 필요합니다. 최근에는 인공지능(AI) 기술을 활용하여 이미지 분석의 정확성과 속도를 높이는 연구도 활발히 진행되고 있습니다. 마지막으로, **측정 환경 제어 기술**입니다. 정밀한 측정을 위해서는 온도, 습도, 진동 등 외부 환경 요인을 최소화하는 것이 중요합니다. 따라서 고도의 진동 방지 시스템, 온도 조절 장치, 그리고 필요한 경우 진공 또는 불활성 기체 환경을 제공하는 기술이 동반됩니다. 이처럼 프로브 스캐닝 현미경은 단순히 현미경 자체의 성능뿐만 아니라, 첨단 재료 과학, 정밀 기계 공학, 전자 공학, 소프트웨어 공학 등 다양한 분야의 기술들이 융합된 결과물이라고 할 수 있습니다. |
| ※본 조사보고서 [세계의 프로브 스캐닝 현미경 시장예측 2025년-2031년] (코드 : LPK23JU0945) 판매에 관한 면책사항을 반드시 확인하세요. |
| ※본 조사보고서 [세계의 프로브 스캐닝 현미경 시장예측 2025년-2031년] 에 대해서 E메일 문의는 여기를 클릭하세요. |